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  • QTestStation1000AD太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀
    QTestStation1000AD太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀

    QTestStation1000AD太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀,QE量子效率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量外部量子效率(EQE )和內(nèi)部量子效率( IQE )中的AC斬波模式,這適合于大多數(shù)類(lèi)型的電池。 可以用選項(xiàng),允許用戶(hù)定制一個(gè)特殊的解決方案,滿(mǎn)足他們的個(gè)人工作需求QE測(cè)量進(jìn)行配置。允許客戶(hù)以測(cè)量外量子效率(EQE )也稱(chēng)為入射光子到電荷載流子的效率( IPCE )或量子效率(QE) ,以及內(nèi)部量子效率( IQE )的太陽(yáng)能電池,檢測(cè)器,或任何其他光子荷轉(zhuǎn)換裝置。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)報(bào)價(jià)適合斬波AC模式對(duì)于大多數(shù)樣品類(lèi)型。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):QTestStation1000AD訪問(wèn)量:2830
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  • PT-QEM200太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)
    PT-QEM200太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)

    太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)可以用來(lái)測(cè)量各種結(jié)構(gòu)的太陽(yáng)能電池,適合研發(fā)和品質(zhì)監(jiān)控使用。其光學(xué)設(shè)計(jì),穩(wěn)定的硬件性能,雙光路雙鎖相放大器保證了系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。單色光單位面積光強(qiáng)使得系統(tǒng)在測(cè)試中有著更好的信噪比,更快的測(cè)量速度。系統(tǒng)備有豐富的硬件擴(kuò)展功能和整合能力,可以提供使用者更多的測(cè)試功能。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):PT-QEM200訪問(wèn)量:3342
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  • 太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)
    太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)

    太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)適用于各種材料,例如:?jiǎn)尉Ч鑃i、多晶硅mc-Si、非晶硅a-Si、砷化擦GaAs、擦鋼磷GalnP、磷化鋼InP、緒Ge、稀化鎘CdTe、銅鋼硒CIS、銅鋼擦硒CIGS、染料敏化DSSC、有機(jī)太陽(yáng)電池Organic Solar Cel、聚合物太陽(yáng)電池Polymer Solar Cell等。適用于多種結(jié)構(gòu)的太陽(yáng)電池測(cè)試;單結(jié)Single junction、多結(jié)multi junction、異質(zhì)結(jié)HIT、薄膜thin film、高聚光HPV等。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):訪問(wèn)量:2541
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  • 量子效率測(cè)試儀
    量子效率測(cè)試儀

    量子效率測(cè)試儀,鈣鈦礦量子效率測(cè)試儀采用光譜連續(xù)的氙燈或鹵素?zé)糇鳛楣庠?,通過(guò)單色儀轉(zhuǎn)化為單色光,經(jīng)過(guò)斬波器后變?yōu)橐粋€(gè)脈沖單色光,照射在太陽(yáng)電池上,采用鎖相放大器測(cè)量電池的電流信號(hào)。 單色儀通過(guò)機(jī)械結(jié)構(gòu)旋轉(zhuǎn)光柵來(lái)改變出射光的波長(zhǎng),為去除光柵單色儀中的高級(jí)次光譜,需要同時(shí)旋轉(zhuǎn)濾色片輪來(lái)切換相應(yīng)的濾色片,這樣一來(lái),速度較慢,容易出現(xiàn)機(jī)械故障。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):訪問(wèn)量:2793
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  • QE量子效率測(cè)試儀
    QE量子效率測(cè)試儀

    QE量子效率測(cè)試儀使用需要按照規(guī)定測(cè)量太陽(yáng)能電池的相對(duì)光譜響應(yīng),之后通過(guò)適當(dāng)?shù)牟襟E對(duì)縱坐標(biāo)進(jìn)行絕對(duì)定標(biāo),即可得到絕對(duì)光譜響應(yīng)。常用的定標(biāo)方法是激光定標(biāo),從出射激光光束到測(cè)試電池和絕對(duì)輻射計(jì)必須用減反射的光密封箱嚴(yán)格密封并防止其他熱輻射干擾,待測(cè)電池的溫度應(yīng)該與測(cè)量相對(duì)光譜響應(yīng)時(shí)相一致。為了保證精度,用絕對(duì)輻射計(jì)和待測(cè)電池重復(fù)測(cè)量三次以上,取三次以上的算術(shù)平均值作為光譜標(biāo)定值,測(cè)量精度應(yīng)不低于?2%。

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